Рябенький, В. М.Трибулькевич, С. Л.Ryabenkyy, Volodymyr M.Trybulkevich, Serhii L.2022-10-082022-10-082022https://doi.org/10.15589/znp2022.1(488).72311-3405 (Print)2313-0415 (Online)https://eir.nuos.edu.ua/handle/123456789/6211Рябенький, В. М. Лабораторний комплекс для дослідження параметрів електронних компонентів = Laboratory complex for investigation of parameters of electronic components / В. М. Рябенький, С. Л. Трибулькевич // Зб. наук. пр. НУК. – Миколаїв : НУК, 2022. – № 1 (488). – С. 51–56.Проаналізовано сучасний досвід побудови лабораторного обладнання для вимірювання параметрів електронних компонентів. Розглянуто основні методи вимірювань та розрахунку параметрів електронних компонентів. Проведено огляд наявного ринку схемотехнічного лабораторного обладнання. Досліджено алгоритми розрахунку основних параметрів та практичного визначення параметрів SPICE моделей електронних компонентів. Розроблено універсальну програмно-апаратну платформу для вимірювання та розрахунку параметрів електроних компонентів, яка може бути використана у розробці сучасної силової електроніки та проведенні досліджень у лабораторних роботах. Запропоновано автоматизований метод визначення типу компонента та вимірювання його характеристик. У апаратній частині використано сучасні телекомунікаційні технології, завдяки чому запропоновано методику проведення лабораторних робіт з твердотілої електроніки в умовах дистанційного навчання. Мета – розробка комплексного підходу до вимірювання параметрів електронних компонентів; автоматизація процесу дослідження та розрахунку математичних моделей електронних компонентів з подальшим їх імпортом у програми схемотехнічного моделювання. Методика. Під час виконання дослідження використовувались методи порівняльного аналізу та експериментальні методи. Результати. Розроблена універсальна апаратна платформа лабораторного стенду з дослідження параметрів електронних компонентів, яка може використовуватись для лабораторних робіт з твердотілої електроніки, а також у розробці та налагодженні електронних пристроїв. Наукова новизна. Розроблено комплексну методику з вимірювання параметрів дискретних електронних компонентів, розрахунку їх характеристик із можливістю визначення параметрів SPICE моделей із подальшим їх імпортом у програми схемотехнічного моделювання. Практична значимість: проведення випробувань електронних компонентів та організація лабораторного практикуму з твердотілої електроніки в умовах дистанційного навчання, налагодження електронного обладнання, підбір комплементарних пар.ukтранзисторрезисторконденсаторіндуктивністьSPICE модельIGBTMOSFETtransistorresistorcapacitorinductorSPICE modelArticle