Лабораторний комплекс для дослідження параметрів електронних компонентів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorРябенький, В. М.
dc.contributor.authorТрибулькевич, С. Л.
dc.contributor.authorRyabenkyy, Volodymyr M.
dc.contributor.authorTrybulkevich, Serhii L.
dc.date.accessioned2022-10-08T12:37:33Z
dc.date.available2022-10-08T12:37:33Z
dc.date.issued2022
dc.descriptionРябенький, В. М. Лабораторний комплекс для дослідження параметрів електронних компонентів = Laboratory complex for investigation of parameters of electronic components / В. М. Рябенький, С. Л. Трибулькевич // Зб. наук. пр. НУК. – Миколаїв : НУК, 2022. – № 1 (488). – С. 51–56.uk_UA
dc.description.abstractПроаналізовано сучасний досвід побудови лабораторного обладнання для вимірювання параметрів електронних компонентів. Розглянуто основні методи вимірювань та розрахунку параметрів електронних компонентів. Проведено огляд наявного ринку схемотехнічного лабораторного обладнання. Досліджено алгоритми розрахунку основних параметрів та практичного визначення параметрів SPICE моделей електронних компонентів. Розроблено універсальну програмно-апаратну платформу для вимірювання та розрахунку параметрів електроних компонентів, яка може бути використана у розробці сучасної силової електроніки та проведенні досліджень у лабораторних роботах. Запропоновано автоматизований метод визначення типу компонента та вимірювання його характеристик. У апаратній частині використано сучасні телекомунікаційні технології, завдяки чому запропоновано методику проведення лабораторних робіт з твердотілої електроніки в умовах дистанційного навчання. Мета – розробка комплексного підходу до вимірювання параметрів електронних компонентів; автоматизація процесу дослідження та розрахунку математичних моделей електронних компонентів з подальшим їх імпортом у програми схемотехнічного моделювання. Методика. Під час виконання дослідження використовувались методи порівняльного аналізу та експериментальні методи. Результати. Розроблена універсальна апаратна платформа лабораторного стенду з дослідження параметрів електронних компонентів, яка може використовуватись для лабораторних робіт з твердотілої електроніки, а також у розробці та налагодженні електронних пристроїв. Наукова новизна. Розроблено комплексну методику з вимірювання параметрів дискретних електронних компонентів, розрахунку їх характеристик із можливістю визначення параметрів SPICE моделей із подальшим їх імпортом у програми схемотехнічного моделювання. Практична значимість: проведення випробувань електронних компонентів та організація лабораторного практикуму з твердотілої електроніки в умовах дистанційного навчання, налагодження електронного обладнання, підбір комплементарних пар.uk_UA
dc.description.abstract1Analyzed the current state of the laboratory environment for testing the parameters of electronic components. The main methods of vimiryuvan and the analysis of the parameters of electronic components are reviewed. A survey of the main market of circuitry laboratory equipment was carried out. The algorithms for the analysis of the main parameters and the practical design of the parameters of SPICE models of electronic components have been completed. A universal software and hardware platform for the simulation and analysis of parameters in electronic components has been developed, as it can be broken in the development of modern power electronics and research conducted in laboratory robots. It was proposed to automate the method of assigning the type of component and the simulation of its characteristics. The hardware part has advanced telecommunication technologies, for which reason the methodology for conducting laboratory experiments with solid-state electronics in the minds of remote training has been approved Purpose. Development of a complex approach to the modification of parameters in electronic components. Automation of the process of follow-up and development of mathematical models of electronic components with their further import from the program of circuit modeling. Method. At the research the methods of sequential analysis and experimental methods were tested. Results. The universal hardware platform of the laboratory stand has been expanded for the maintenance of parameters of electronic components, as it can be used for laboratory work with solid state electronics, as well as for the development of the development of upgraded electronic devices. Scientific novelty. A comprehensive methodology for the modification of the parameters of discrete electronic components, the analysis of their characteristics from the possibility of choosing the parameters of SPICE models and their further import from the program of circuit modeling is developed. Practical importance. Carrying out testing of electronic components and organization of a laboratory workshop on solidstate electronics in the minds of remote training, improvement of electronic possession, selection of complementary pairs.uk_UA
dc.identifier.govdochttps://doi.org/10.15589/znp2022.1(488).7
dc.identifier.issn2311-3405 (Print)
dc.identifier.issn2313-0415 (Online)
dc.identifier.urihttps://eir.nuos.edu.ua/handle/123456789/6211
dc.language.isoukuk_UA
dc.relation.ispartofseries621.3.089.2uk_UA
dc.subjectтранзисторuk_UA
dc.subjectрезисторuk_UA
dc.subjectконденсаторuk_UA
dc.subjectіндуктивністьuk_UA
dc.subjectSPICE модельuk_UA
dc.subjectIGBTuk_UA
dc.subjectMOSFETuk_UA
dc.subjecttransistoruk_UA
dc.subjectresistoruk_UA
dc.subjectcapacitoruk_UA
dc.subjectinductoruk_UA
dc.subjectSPICE modeluk_UA
dc.titleЛабораторний комплекс для дослідження параметрів електронних компонентівuk_UA
dc.title1Laboratory complex for investigation of parameters of electronic componentsuk_UA
dc.title22022
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Ryabenkyy.pdf
Розмір:
534.27 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
стаття
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.05 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

№ 1 (488) 2022